Microscopía Electrónica

	MyAP centra su actividad en la microscopía electrónica de barrido (SEM - Scanning Electron Microscopy). Como una evolución natural de la microscopía óptica, surgió la microscopía electrónica. La imagen en la SEM se crea de manera equivalente a un microscopio óptico, el haz de electrones atraviesa un conjunto de lentes, en este caso electromagnéticos y luego llega a la muestra. La principal diferencia entre ambas es que la microscopía óptica al basarse en la luz, limita su capacidad de aumento a la longitud de onda de ella, mientras que la electrónica al usar un haz de electrones permite alcanzar mayores aumentos, hasta 500 000 comparados con los 1000 de los mejores microscopios ópticos. El uso de los electrones, produce varios fenómenos al interactuar con las muestras, los cuales tienen aplicaciones científicas, como por ejemplo la Difracción de Rayos X. Dichos fenómenos y la mayor capacidad de aumento multiplican, su capacidad de uso y los campos de estudio, frente a la microscopía óptica. La capacidad de observar la morfología de la muestra, es de suma importancia, en campos como el control de calidad. Procesos industriales como la creación de cerámicos y aleaciones, se ven beneficiados con la posibilidad de estudiar micro fracturas, distribución de sus componentes y acabado final. Otra aplicación práctica es en la agroindustria, por ejemplo la chinchilla para ser exportable requiere tener un determinado tamaño, sino lo tiene es rechazada. El moderno tratamiento de imágenes, permite realizar mediciones exactas de partes de la muestra. Esto es primordial en el estudio de partículas, y puede ser usado por ejemplo para llevar un control de los filtros, estudiando su interacción con las partículas y su efectividad.

La amplia capacidad de aplicación y velocidad de procesamiento que posee la microscopía electrónica unidas a nuestra larga experiencia, nos permiten procesar con rapidez todo tipo de muestras.